傳統的測試探針pogo pin在測試過程中出現不穩定現象幾率很高。

1、測試不穩定，pogo pin本身是多配件結構，接觸點多，易產生接觸不穩定、阻抗一致性低等問題。

2、測試時探針經常性扎歪，然后需要人員重新進行探針調整，浪費了大量的時間和人工成本。

3、卡PIN：同樣因為由多結構組合而成，這個在pogo pin身上是避免不了的問題。

4、極易斷針：隨著pitch的縮小，pogo的針徑也越來越小，使得探針的斷針風險逐漸增加。

5、使用壽命很短：探針的使用壽命均在5W次以下，并容易磨損，使用次數到一定的壽命后易導致接觸不良、誤測等現象。

東莞柯睿電子彈片微針模組pitch值最小間距可達0.1mm，范圍在0.1mm-0.4mm，測試人員可輕松應對各種精細化的測試。（彈片結構較為扁平，可支持的pitch值范圍更大）

相對測試探針，彈片微針模組的使用壽命高達20W次，是測試探針的整整四倍，這大大降低了測試成本，提高了測試效率，避免浪費不必要的時間。（一體化成型的彈片結構更穩定，壽命更長）

彈片微針模組的過流范圍廣，更高可過30A額定電流，范圍在1-30A。（彈片的導電性能優于探針，測試過程中電阻恒定，電流傳導于同一種材料中，幾乎不會發生衰減）